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PCT高壓加速壽命老化試驗箱
高壓加速老化試驗箱廠家外箱均采用304不銹鋼板，圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業(yè)容器標準，可防止試驗中結露滴水設計。圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。精密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，門把設計，箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護。
PCT高壓加速壽命老化試驗箱
PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
特點優(yōu)勢：
1.**優(yōu)化設計,美觀大方，做工精細。
2.采用大容量水箱,試驗時間長,不中斷。
3.采用日本“SHIMAX”智能溫控器，具有精度高，控制穩(wěn)定特點（依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏，USB曲線數(shù)據下載功能，和通訊功能）。
4. PCT加速老化試驗箱的水路配電盤分離，確保設備穩(wěn)定可靠安全。
5.采用高效真空泵，使箱內達到**純凈飽和蒸汽狀態(tài)。
6.多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法及功能顯示。